Con la presencia de profesionales e investigadores de diversas universidades de prestigio de Canadá y Estados Unidos, la Universidad Politécnica Salesiana presentó tres trabajos investigativos desarrollados por sus estudiantes y docentes del área de telecomunicaciones en la Trigésima Conferencia Canadiense Anual de Ingeniería Eléctrica e Ingeniería en Computación (30th Annual Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering).
La UPS fue una de las pocas instituciones de educación superior de América Latina presente en la conferencia, realizada en la ciudad de Windsor (Canadá), donde el investigador Walter Orozco (Ph.D.) presentó tres artículos científicos sobre los proyectos realizados con los distintos grupos de investigación de la sede Cuenca. Las temáticas investigadas conciernen el campo de la Telecomunicaciones, el Procesamiento Inteligente de Señales y los Sistemas Eléctricos de Potencia, y se proponen contribuir al desarrollo de la industria y el mejoramiento de los procesos productivos, además de generar beneficio para la ciudadanía en general.
Los artículos presentados fueron:
- «Perfomance Analysis of Adaptive Widely Linear Beamformers» (Análisis de Desempeño de Modelos Extendidos de Arreglos Lineales Inteligentes de Antenas) del Grupo de Investigación en Interacción, Robótica y Automática (GIIRA).
- «Power Quality Analysis of a Low-voltage Grid with a Solar Photovoltaic System» (Análisis de la Calidad de Energía de una Red de Baja Tensión con un Sistema Fotovoltaico Solar) del Grupo GIIRA
- «Experimental Alamouti-STBC using LDPC Codes for MIMO Channels over SDR Systems» (Alamouti-STBC Experimental usando Códigos LDPC para Canales MIMO sobre Sistemas SDR) del grupo investigativo en Telecomunicaciones y Telemática (GITEL)
Los artículos fueron desarrollados por los docentes: Walter Orozco, Arturo Peralta, Diego Chacón, Andrés Ortega y los jóvenes estudiantes Bryan Salvatierra, Diego Domínguez, Ricardo Prieto y Ana Abril. Estos artículos serán publicados e indexados en la base de datos científicos IEEE Xplore y Scopus.